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國立高雄科技大學 機械工程系 許光城所指導 陳毓良的 精密製造用於3D隨機陣列微透鏡光學膜製作與自動光學檢測系統開發之研究 （2020），提出SANBY關鍵因素是什麼，來自於微透鏡陣列、R2R 滾筒模具、自動光學檢測、人機介面。

而第二篇論文國立臺灣科技大學 材料科學與工程系 邱士軒所指導 官聲嚴的 曲面物體表面之光學瑕疵檢測 （2013），提出因為有 自動光學檢測、瑕疵檢測的重點而找出了 SANBY的解答。

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精密製造用於3D隨機陣列微透鏡光學膜製作與自動光學檢測系統開發之研究

為了解決SANBY的問題，作者陳毓良 這樣論述：

摘要 IAbstract III誌謝 V目錄 VI圖目錄 IX表目錄 XV符號說明 XVI第一章 緒論 11-1 前言 11-2 研究動機與目的 21-3 論文架構 4第二章 文獻探討 82-1 光子晶體與應用 82-1-1 光子晶體簡介 82-1-2 光子晶體製程與應用 102-2 背光模組與光學膜製造 162-2-1 Roll to Roll製程與滾筒模仁 182-2-2 毛細力自組裝製程 222-3 機械視覺與應用 252-3-1 機械視覺與光學量測 252-3-2 2D與3D測量技術 272-3-3 其他光學應用 31第三章 實驗流程與器材 34

3-1 光學膜製造 343-1-1 光學膜製作流程 343-1-2 實驗材料 353-1-3 自組裝拉伸機設備 373-2 自動光學檢測系統 403-2-1 自動光學檢測流程 403-2-2 自動光學檢測機台設計架構 413-2-3 LS-7030線掃瞄測微計 43第四章 研究方法 454-1 光學膜製造 454-1-1 自組裝微結構滾輪模具製程 454-1-2 微粒子堆積率計算與量測樣本 474-1-3 UV R2R製程與光學膜測量 494-2 自動光學檢測系統 514-2-1 光學量測步驟 514-2-2 量測數值與虛擬空間轉換 544-2-3 阿貝誤差之

工件偏心校正理論 564-2-4 量測程式邏輯與人因設計 61第五章 結果與討論 655-1 3D隨機陣列微透鏡光學膜 655-1-1 SB在不同實驗參數之堆積率結果 675-1-2 BB堆積率在不同實驗參數之結果 705-1-3 無縫軟性滾筒製造結果 745-1-4 PET光學膜與實際應用結果 795-2 線掃瞄光學量測系統 835-2-1 環規偏心校正 835-2-2 環規數值過濾與優化 865-2-3 圓廻歸分析不同門檻值結果 935-2-4 圓廻歸分析改善策略與結果 1015-2-5 人機介面穩定性改善與原因 1045-2-6 工件量測與量測再現性 1145

-2-7 AOI與AutoCAD 比較 1205-3 光學膜與光學量測系統的研究關聯性 124第六章 結論與建議 1266-1 結論 1266-1-1 3D隨機陣列微透鏡光學膜 1266-1-2 線掃瞄光學量測系統 1276-2 建議及未來展望 1296-2-1 3D隨機陣列微透鏡光學膜 1296-2-2 線掃瞄光學量測系統 129參考文獻 130簡歷 137附錄一 140附錄二 144

曲面物體表面之光學瑕疵檢測

為了解決SANBY的問題，作者官聲嚴 這樣論述：

現今自動化光學檢測系統已大量運用於液晶顯示器面板相關的製程當中，但在檢測曲面產品外觀之瑕疵時仍頇仰賴傳統人工檢測的方式進行檢測。本研究針對曲面物開發及設計自動化光學檢測系統，利用瑕疵的光學特性與影像處理技術，檢測曲面物的表面瑕疵。本研究提出的自動化光學檢測系統可克服曲面物表面光照度不均勻的情況，有效檢驗瑕疵。根據實驗結果顯示，瑕疵的帄均檢測率可達到80%以上。

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