類比ic概念的問題，透過圖書和論文來找解法和答案更準確安心。 我們找到下列推薦必買和特價產品懶人包

應用電子學(第二版)(精裝本)

為了解決類比ic概念的問題，作者楊善國  這樣論述：

　　作者依教學經驗及專業知識，並為兼顧學習內容及學習效果，本書由最基礎的半導體材料及PN接面開始講起，到雙層元件(二極體)、三層元件(電晶體)、四層元件(閘流體)、線性積體電路-OP，到常用的應用電路包括：運算放大器構成之應用電路、電壓調整器、主動濾波器、功率放大器等，使學生可習得電子元件及其構成電路的基礎知識。另修習本科目的學生可能來自不同的專業背景，對電學的觀念及基礎或有所不同，為顧及對電學較生疏學生的需要，特別增加「電學基本概念複習」一章(第零章)，使學生具有起碼的電路基礎，以協助學生進入電子電路之領域，並助益往後的教學。    本書特色   　　1.本書由最基礎的半導體材料及PN接

面開始講起，到雙層元件(二極體)、三層元件(電晶體)、四層元件(閘流體)、線性積體電路-OP，到常用的應用電路，使學生可習得電子元件及其所構成電路的基礎知識。   　　2.修習本科目的學生可能來自不同的專業背景，對電學的觀念及基礎或有不同，特別增加「電學基本概念複習」，使學生具有基礎的電路概念，以協助學生進入電子電路之領域，並助益往後的教學。   　　3.本書適用大學、科大機械、自動化科系『應用電子學』、『電子學』課程使用。

類比ic概念進入發燒排行的影片

以機器學習輔助之進化演算法 實現考量參數變異的快速類比電路尺寸調整方法

為了解決類比ic概念的問題，作者郭東杰 這樣論述：

進化演算法被廣泛應用於各種優化問題，因其高準確度和對不同電路的強適應性，相當適合被應用在類比電路尺寸設計上。然而，若在電路尺寸設計中考慮製程變異的影響，將會大量增加電路模擬次數，使其無法被應用於大規模電路上。儘管最近的一些相關研究採用了機器學習技術來加速優化過程，但很少有人在他們的方法中考慮製程變異的影響。在本篇論文中，我們提出了一種應用於類比電路尺寸設計的進化演算法，可以快速地考慮製程變異對良率影響。透過機器學習模型，我們能夠在進行模擬前初步預測新電路樣本的效能好壞，並過濾掉表現可能較差的新電路樣本，節省許多不必要的模擬時間，加快收斂的速度。此外，我們也提出了一種新的類力學模型來引導演算法

優化良率。基於先前過程中的電路樣本，所提出的類力學模型可以預測設計是否具有更好的良率，而無需執行耗時的蒙特卡羅分析。與先前的研究相比，我們所提出的方法顯著減少了進化演算法過程的模擬次數，有助於產生具有高可靠性和低成本的實用設計。相同的概念也可以用在類比電路遷移，大幅縮短改變製程時的尺寸再優化時間。從幾個類比電路的實驗來看，我們的方法確實非常有效率。

半導體元件物理與製程：理論與實務(四版)

為了解決類比ic概念的問題，作者劉傳璽,陳進來 這樣論述：

　　以深入淺出的方式，系統性地介紹目前主流半導體元件(CMOS)之元件物理與製程整合所必須具備的基礎理論、重要觀念與方法、以及先進製造技術。內容可分為三個主軸：第一至第四章涵蓋目前主流半導體元件必備之元件物理觀念、第五至第八章探討現代與先進的CMOS IC之製造流程與技術、第九至第十二章則討論以CMOS元件為主的IC設計和相關半導體製程與應用。由於強調觀念與實用並重，因此儘量避免深奧的物理與繁瑣的數學；但對於重要的觀念或關鍵技術均會清楚地交代，並盡可能以直觀的解釋來幫助讀者理解與想像，以期收事半功倍之效。   　　本書宗旨主要是提供讀者在積體電路製造工程上的know-how與know-wh

y；並在此基礎上，進一步地介紹最新半導體元件的物理原理與其製程技術。它除了可作為電機電子工程、系統工程、應用物理與材料工程領域的大學部高年級學生或研究生的教材，也可以作為半導體業界工程師的重要參考   本書特色   　　●包含實務上極為重要，但在坊間書籍幾乎不提及的WAT，與鰭式電晶體(Fin-FET)、環繞式閘極電晶體(GAA-FET)等先進元件製程，以及碳化矽(SiC)與氮化鎵(GaN)功率半導體等先進技術。   　　●大幅增修習題與內容，以求涵蓋最新世代積體電路製程技術之所需。   　　●以最直觀的物理現象與電機概念，清楚闡釋深奧的元件物理觀念與繁瑣的數學公式。 　 　　●適合大專以上學

校課程、公司內部專業訓練、半導體從業工程師實務上之使用。

結合游標尺概念之微瓦級導電布阻值量測積體電路

為了解決類比ic概念的問題，作者賴安祺 這樣論述：

本論文設計一個以游標尺為基礎概念的彈性導電布料相對阻值量測電路。導電布的阻值會隨著拉伸形變產生變化，可透過量測阻值變化大小及量測不同電阻進而得知布料延展方向及幅度。應用在機能衣上，可以達到動作及心律監測的功能。此系統晶片透過積分器和比較器，將電阻值轉為以時域的方式呈現，產生一個週期與待測電阻成正比的時脈訊號。將兩不同待測電阻產生的兩個時脈訊號，結合游標尺的概念使其互相比較，進而得知兩電阻之間的比例關係。再藉由後端校正機制，以達到低功耗及高精準度的目的。因考量布料製程變異及不同布料材質，此晶片適用於阻值範圍為100kΩ至1MΩ的布料，並由電池提供電壓，供應電壓設計為1.5V至1.2V。本晶片採

用UMC CMOS 0.18µm 製程，核心電路佈局面積為635×267µm2，平均功耗為173.9 µW。經由校正後，可達到0.1%的精準度。